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市場調査レポート
商品コード
1901509

WLTBI(Wafer-level Test and Burn-in)の世界市場:試験の種類別・技術別・最終用途産業別・国別・地域別 - 2025年~2032年の産業分析、市場規模・シェア、将来予測

Wafer-level Test and Burn-in [WLTBI] Market, By Test Type, By Technology, By End-use Industry, By Country, and By Region - Global Industry Analysis, Market Size, Market Share & Forecast from 2025-2032


出版日
ページ情報
英文 365 Pages
納期
2~3営業日
カスタマイズ可能
WLTBI(Wafer-level Test and Burn-in)の世界市場:試験の種類別・技術別・最終用途産業別・国別・地域別 - 2025年~2032年の産業分析、市場規模・シェア、将来予測
出版日: 2025年12月09日
発行: AnalystView Market Insights
ページ情報: 英文 365 Pages
納期: 2~3営業日
GIIご利用のメリット
  • 概要

WLTBI(Wafer-level Test and Burn-in)市場の規模は、2024年に23億4,556万米ドルと評価され、2025年から2032年にかけてCAGR10.5%で拡大しています。

現代のチップがより小型化・複雑化し、製造コストが高騰するにつれて、WLTBI(Wafer-level Test and Burn-in)市場は成長を続けています。WLTBIとは、半導体デバイスがウエハー上に残っている状態で、切断・パッケージングされる前にテストおよびストレス試験を行うプロセスです。これにより、メーカーは欠陥のあるチップや信頼性の低いチップを早期に検出でき、後で故障する部品をパッケージングする無駄なコストを削減できます。5G、AI、高性能コンピューティング、自動車用電子機器などに使用される先進チップは、信頼性と性能に関する非常に厳しい要件が課されているため、このプロセスは現在特に重要です。

WLTBI(Wafer-level Test and Burn-in)の市場力学

AI、自動車、5G分野におけるチップの複雑化と厳格化する信頼性要求

WLTBI(Wafer-level Test and Burn-in)市場の大きな促進要因は、特にAI、自動車、5Gなどの分野において、現代のチップがどれほど複雑化し、信頼性が重要視されるようになったかです。2023年の世界の半導体市場規模は約5,200億~6,000億米ドルであり、多くの予測では2030年までに1兆米ドルを超える可能性があります。この成長の大部分は、7nm、5nm、3nm以下の先進ロジック、高帯域メモリ(HBM)、EV向けパワーデバイス、複雑な2.5D/3Dまたはチップレットベースのパッケージに起因しています。ノードが微細化し、単一パッケージ内でより多くのダイが積層または統合されるにつれ、従来のパッケージレベルでの最終テストのみでは潜在的な欠陥や初期不良を検出することが困難になってきています。同時に、一部のエンドマーケットでは非常に厳しい信頼性が求められています。例えば、自動車用電子機器市場は今世紀末までに800億~1,000億米ドル規模に達すると予測されており、自動車メーカーは安全上重要な部品について10億個あたり1個(ppb)という極めて低い欠陥レベルを要求しています。また、既に数百億米ドル規模のチップ需要を占めるデータセンターやAIアクセラレータにおいても、大規模運用ではダウンタイムが許容できないほど高コストとなるため、極めて低い故障率が求められています。半導体テストおよびバックエンド装置市場は、概ね60億~100億米ドル規模と推定され、CAGRは1桁台半ばから高水準で成長が見込まれています。この中で、WLTBI(Wafer-level Test and Burn-in)の重要性が増しています。製造メーカーはこれにより、ウエハー上でより早期にダイを選別し、先進パッケージングにおける「良品ダイ(KGD)」の歩留まりを向上させ、不良チップへの高価なパッケージング工程の無駄を回避できるためです。先進ノードのウエハー、EV・パワーデバイス、高信頼性自動車/産業用チップの生産量が増加し続ける中、より高性能なWLTBI装置およびプロセスへの需要も同様に拡大すると予想されます。

WLTBI(Wafer-level Test and Burn-in)市場:セグメンテーション分析

世界のWLTBI(Wafer-level Test and Burn-in)市場は、通常、試験の種類、技術、最終用途産業、地域によってセグメンテーションされます。

試験の種類別では、機能テストが市場を独占しています。高価なパッケージング/スタッキング(チップレット、2.5D/3D)の前に、より多くのシステムレベルの「実際に動作するか?」というスクリーニングがウエハー段階で実施され、良品ダイ(KGD)が作成されるため、機能テストは通常、ウエハーレベルテスト&バーンイン(WLTBI)市場内で最も急速に成長しているワークロードです。この移行により、ウエハーあたりのテスト内容が増加し、ウエハーレベルインターフェース、プローブソリューション、および熱/並列テスト能力への支出が増加しています。

最終用途産業を見ると、民生用電子機器がWLTBI需要の主な牽引役です。世界規模で数兆ドル規模の巨大産業であるコンシューマーエレクトロニクス分野では、スマートフォン出荷台数だけでも年間12億~14億台に達します。各端末には数十種類のチップ(アプリケーションプロセッサ、RFフロントエンド部品、PMIC、メモリ、センサー、接続用ICなど)が搭載されており、これら全てがウエハーレベル電気試験を経ており、多くは信頼性スクリーニングも実施されています。スマートフォン以外にも、タブレット端末、スマートウォッチ、フィットネスバンド、ゲーム機、スマートテレビ、セットトップボックス、Wi-Fiルーター、スマートホームデバイスなど、年間数億台が出荷されています。接続されたIoTデバイスの総数は既に約150億~180億台と推定されており、2030年までに250億~300億台に達する可能性があり、その多くは消費者向けまたはプロシューマー向けカテゴリーに分類されます。これらの市場は大量生産かつ更新サイクルが短いため、歩留まり向上と故障率低減には高スループットのWLTBI(Wafer-level Test and Burn-in)能力が不可欠であり、民生用電子機器はWLTBI市場の主要なエンドユース分野となっています。

WLTBI(Wafer-level Test and Burn-in)市場 - 地域別分析

地理的な観点から見ますと、WLTBI(Wafer-level Test and Burn-in)市場は、主にアジア太平洋を中心とした半導体製造を支配する地域に集中しており、北米および欧州からも追加的な需要が生じています。アジア太平洋は世界の半導体ファブ生産能力の半分以上を占めており、台湾、韓国、中国、日本が世界の先進的な200mmおよび300mmファブの大半を擁しています。台湾と韓国は、最先端プロセス(7nm、5nm、3nm以下、および先進的なDRAM/NAND)の生産において非常に大きなシェアを占めており、これらはまさに集中的なウエハーレベルテストと信頼性スクリーニングを必要とする製品群です。中国は成熟ノードおよびパワー/RFファブの増強を進めており、年間数百万枚のウエハースタートを追加しています。これら全てにウエハープローブ検査が必要であり、一部のデバイスではバーンインも必要となります。北米(米国主導)は、ロジック、アナログ、特殊チップ向けの重要なファブを依然として保有しており、製造の一部をアジアにアウトソーシングしている場合でも、テスト装置の大口購入者です。欧州の世界生産能力におけるシェアは小さいもの、パワーエレクトロニクスや自動車用チップにおいて戦略的に重要であり、ドイツ、フランス、イタリアなどのIDM(垂直統合型半導体メーカー)は、EVや産業システム向けのウエハーレベル信頼性試験に多額の投資を行っています。半導体テスト/バックエンド装置市場は全体として、通常60億~100億米ドル規模と推定され、CAGRは1桁台半ばから後半で成長が見込まれています。この支出のうち、高度なパッケージングや高信頼性エンドマーケットを支えるウエハーレベルソリューションへの投資割合が増加傾向にあります。

WLTBI(Wafer-level Test and Burn-in)市場 - 国別分析

台湾は、世界のチップ生産において極めて中心的な位置を占めるため、WLTBI市場にとっておそらく最も重要な単一の国です。同国には世界最大のファウンダリ企業であるTSMCが拠点を置いており、同社単独で世界のファウンダリ市場の収益ベースで50%以上を占めると推定され、最先端プロセス(7nm、5nm、3nm以下)ではさらに高いシェアを有しています。台湾では、主に300mmウエハーを用いて、世界のスマートフォン向けアプリケーションプロセッサ、クラウドおよびAI向け高性能コンピューティングチップ、ネットワーク用SoC、その他の先進デバイスが大量に製造されています。これらの高付加価値ウエハーは、高価な2.5D/3Dパッケージやチップレットベースのシステムへ移行する前に、徹底的なウエハーレベルプローブ検査に加え、近年ではウエハーレベルバーンインやストレススクリーニングがますます実施され、既知良品ダイ(KGD)の歩留まり向上を図っています。さらに台湾では、イメージセンサー、RF、ミックスドシグナル、その他のICも生産されており、これら全てがウエハーレベルテストに依存しています。年間数百万枚の300mmウエハー生産と、台湾国内外での生産能力拡大に向けた数十億米ドル規模の設備投資計画が継続していることから、同国はプローブ装置、プローブカード、WLTBIインフラに対する世界の需要の非常に大きなシェアを生み出しており、この分野の企業にとって重要な基準市場となっています。

目次

第1章 WLTBI(Wafer-level Test and Burn-in)市場の概要

  • 分析範囲
  • 市場推定期間

第2章 エグゼクティブサマリー

  • 市場内訳
  • 競合考察

第3章 WLTBI(Wafer-level Test and Burn-in)の主な市場動向

  • 市場促進要因
  • 市場抑制要因
  • 市場機会
  • 市場の将来動向

第4章 WLTBI(Wafer-level Test and Burn-in)市場:産業分析

  • PEST分析
  • ポーターのファイブフォース分析
  • 市場成長の見通し:マッピング
  • 規制体制の分析

第5章 WLTBI(Wafer-level Test and Burn-in)市場:高まる地政学的緊張の影響

  • COVID-19パンデミックの影響
  • ロシア・ウクライナ戦争の影響
  • 中東紛争の影響

第6章 WLTBI(Wafer-level Test and Burn-in)の市場情勢

  • WLTBI(Wafer-level Test and Burn-in)の市場シェア分析 (2024年)
  • 主要メーカー別の内訳データ
    • 既存企業の分析
    • 新興企業の分析

第7章 WLTBI(Wafer-level Test and Burn-in)市場:試験の種類別

  • 概要
    • セグメント別シェア分析:試験の種類別
    • 機能試験
    • パラメトリックテスト
    • 信頼性試験

第8章 WLTBI(Wafer-level Test and Burn-in)市場:技術別

  • 概要
    • セグメント別シェア分析:技術別
    • 電気的試験(e-test)
    • バーンイン試験
    • 光学検査

第9章 WLTBI(Wafer-level Test and Burn-in)市場:最終用途産業別

  • 概要
    • セグメント別シェア分析:最終用途産業別
    • 自動車
    • 民生用電子機器
    • 産業
    • 航空宇宙・防衛

第10章 WLTBI(Wafer-level Test and Burn-in)市場:地域別

  • イントロダクション
  • 北米
    • 概要
    • 北米の主要メーカー
    • 米国
    • カナダ
  • 欧州
    • 概要
    • 欧州の主要メーカー
    • ドイツ
    • 英国
    • フランス
    • イタリア
    • スペイン
    • オランダ
    • スウェーデン
    • ロシア
    • ポーランド
    • その他
  • アジア太平洋(APAC)
    • 概要
    • アジア太平洋の主要メーカー
    • 中国
    • インド
    • 日本
    • 韓国
    • オーストラリア
    • インドネシア
    • タイ
    • フィリピン
    • その他
  • ラテンアメリカ(LATAM)
    • 概要
    • ラテンアメリカにおける主要メーカー
    • ブラジル
    • メキシコ
    • アルゼンチン
    • コロンビア
    • その他
  • 中東・アフリカ(MEA)
    • 概要
    • 中東・アフリカの主要メーカー
    • サウジアラビア
    • アラブ首長国連邦
    • イスラエル
    • トルコ
    • アルジェリア
    • エジプト
    • その他

第11章 主要ベンダー分析:WLTBI(Wafer-level Test and Burn-in)業界

  • 競合ダッシュボード
    • 競合ベンチマーク
    • 競合ポジショニング
  • 企業プロファイル
    • Trio-Tech International
    • Accel RF
    • Robson Technologies Inc.
    • PentaMaster
    • SiSTEM Technology
    • Amkor Technology
    • 4JMSolutions
    • Aehr Test Systems
    • Advanced Energy
    • Abrel Products Ltd
    • Delta V Systems
    • Teradyne Inc.
    • Electron Test
    • Cadence Design Systems

第12章 AnalystViewの全方位的分析