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市場調査レポート

3D ICおよびTSV(Through Silicon Via)技術市場

3D IC & TSV report

発行 Yole Developpement
出版日 2007年10月 商品コード 57165
ページ情報 英文  
価格
こちらの商品の販売は終了いたしました。

当商品の販売は、2008年10月06日を持ちまして終了しました。

概要

半導体、ハイテク産業における市場戦略、技術戦略のコンサルテーションを専門としているフランスの調査会社Yole Developpement(本社:リヨン)では、3D ICおよびTSV技術市場について調査分析を行い、体系的にまとめた報告書 "3D IC & TSV report" を発行いたしました。

当報告書では、3Dパッケージング技術の進化、課題、現在の動向、3D ICおよびTSVのアプリケーション市場、パッケージング企業のサプライチェーン、機器および材料市場の予測、チップスタッキングの各種アプローチなどについてまとめ、概略下記の構成でお届けいたします。

高度パッケージング技術における課題

  • パッケージングにおける進化
  • 2Dから3Dへ
  • スタッキングの動向
  • SoC、SiP、3D IC
  • 3Dインターコネクト技術の動向

3D IC市場

  • TSVの定義
  • 市場牽引要素
  • メモリ
    • メモリ区分
    • TSVの利用
    • フラッシュメモリ市場
    • 3D IC企業のロードマップ
  • イメージセンサー
    • イメージセンサー用TSV
    • ロードマップ
    • 事例
  • MEMS

パッケージングのサプライチェーン

  • パッケージング企業のサプライチェーン
  • 各種ビジネスモデルのインパクト

機器および材料市場の予測

  • 仮説
  • 市場予測

3D IC:チップスタッキングのシナリオ

  • 3Dへの各種アプローチ
  • 3D IC:インターコネクト技術
  • ボンディングプロセス
    • ボンディング技術の概要
    • via-first vs. via-last
    • TSV製造
  • コスト比較
  • DRIE vs. レーザー
  • バイアス特性
  • バイアスフィリング
  • TSV vs. ワイヤーボンディング
    • W2WとC2W
    • ボンディングコスト比較
  • 薄型ダイ/ウエハの取り扱い上の課題
  • グラインディング/シニングの概念
  • 3D開発の事例
  • 総論
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