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市場調査レポート
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「顕微鏡市場」は2010年10月にトライマーク・パブリケーションより発行されました。 当レポートは127 pagesで構成され、税抜￥273,938より販売しています。
世界の顕微鏡市場は景気回復に伴って復調しつつあり、なかでも走査プローブ顕微鏡と荷電粒子顕微鏡の市場は急成長が見込まれています。また、ナノテクノロジーが半導体業界に大きな影響を及ぼすと予想されるなか、ナノスケールの構造物に対応可能な走査トンネル顕微鏡と原子間力顕微鏡にも注目が集まっています。
当レポートは、医療機関や研究機関で使用される各種顕微鏡の市場を詳細に分析したもので、米国市場と世界市場の現状、主要メーカーとその製品を紹介するとともに、半導体処理システムや自動画像処理システムなどの用途にも着目し、概略下記の構成でお届けします。
表紙画像：  第1章 調査概要
第2章 イントロダクション
- 顕微鏡市場の概況
- 基本的な光学顕微鏡
- 電子顕微鏡とその他の荷電粒子技術
- 先進的な光学顕微鏡
- 走査プローブ顕微鏡
- フーリエ変換赤外顕微鏡
- 紫外線顕微鏡
- 超音波顕微鏡
- X線顕微鏡/マイクロトモグラフィー（MCT、XMT、Micro-CT）
- 市場展望
- 市場分析
- 市場規模
- 市場シェア
- 主要企業
- 競合
- 成長阻害要因
- 成長促進要因
- 購入者側の視点
第3章 光学顕微鏡
- レンズシステム
- 解像度
- 照明システム
- 技術革新
- 主な用途
- 半導体製造
- 自動医用画像解析
- 半導体および医療用途に対応する自動システムの成長促進要因
- リアルタイム画像処理
第4章 光ベースの蛍光顕微鏡、マルチフォトン顕微鏡、共焦点顕微鏡
- 蛍光顕微鏡
- 全反射蛍光顕微鏡
- マルチフォトン顕微鏡
- 基本原理
- レーザー
- マルチフォトン作業のための蛍光プローブ
- アンケージング
- 自己蛍光
- レーザー走査共焦点顕微鏡
- 高性能蛍光共焦点画像処理システム
- 主要企業と製品
- Becton, Dickinson and Company(BD)
- KLA-Tencor Corporation
- Korima, Inc.
- Leica Microsystems, Inc.
- Nikon Instruments, Inc.
- Nanomics Imaging, Ltd.
- Olympus Imaging America, Inc.
- Veeco Instruments, Inc.
- Carl Zeiss Microimaging, Inc.
- Modular Confocal Scanners
第5章 走査プローブ顕微鏡（近視野および原子間力顕微鏡を含む）
- イントロダクション
- 近視野走査光学顕微鏡
- 近視野走査熱顕微鏡（NThM)
- 原子間力顕微鏡
- 半導体用途
- 磁性体用途
- 電気化学用途
- 生命科学用途
- 主要企業と製品
- Agilent Technologies
- Asylum Research
- JEOL USA, Inc.
- KLA-Tencor Corporation
- Nanonics Imaging, Ltd.
- Omicron NanoTechnology GmbH
- Veeco Instruments, Inc.
- WITec Instruments Corp.
第6章 赤外線顕微鏡と紫外線顕微鏡
- フーリエ変換赤外顕微鏡(FT-IR)
- 紫外線顕微鏡
- 主要企業と製品
- Bruker Optics, Inc.
- Craic Technologies
- KLA-Tencor Corporation
- Korima, Inc.
- Thermo Scientific
第7章 超音波顕微鏡、X線マイクロトモグラフィー、ラマン分光顕微鏡
- 超音波顕微鏡（SAM)
- X線顕微鏡
- ラマン分光顕微鏡
- コヒーレントアンチストークスラマン散乱顕微鏡
- 超音波顕微鏡の主要企業と製品
- Sonix, Inc.
- Sonoscan, Inc.
- X線顕微鏡の主要企業と製品
- Cameca Instruments, Inc.
- SkyScan
- ラマン顕微鏡の主要企業と製品
- Bruker Optics, Inc.
- Horiba Jobin Yvon, Inc.
- Renishaw, Inc.
- Thermo Scientific
第8章 電子顕微鏡と関連荷電粒子システム
- 透過型電子顕微鏡
- 走査電子顕微鏡(SEM)
- ラスタリング
- 試料調査
- 画像タイプ
- 環境制御型SEMと低真空SEM
- 低電圧SEM
- テーブルトップモデル
- 用途
- 走査/透過型電子顕微鏡
- 電子プローブマイクロアナライザー（マイクロプローブ）
- オージェ電子顕微鏡/分光法
- 電子ビームリソグラフィー
- 集束イオンビーム顕微鏡とデュアルビーム顕微鏡
- 二次イオン質量分析法（SIMS)
- 化学分析のためのX線光電子分光法/電子分光法
- 走査ヘリウムイオンビーム顕微鏡
第9章 補助分析装置
- エネルギー分散型/波長分散型X線マイクロアナライザー
- 電子後方錯乱回折
- 陰極線発光
- X線マイクロトモグラフィー
- ラマン分光法
第10章 電子ビームおよび他の荷電粒子ビーム顕微鏡の主要企業と製品
- Cameca Instruments, Inc.
- FEI Company
- Hitachi High Technologies America, Inc.
- JEOL USA, Inc.
- KLA-Tencor Corporation
- Omicron NanoTechnology GmbH
- Vistec Lithography, Inc.
- Carl Zeiss SMT Corporation
第11章 企業プロファイル
- Applied Materials, Inc.
- Applied Precision, Inc.
- Becton, Dickinson and Company
- Bruker Optics
- Buehler
- Cameca (Owned by AMETEK, Inc.)
- Carl Zeiss, Inc.
- Danish Micro Engineering A/S
- FEI Company
- Gatan
- Genetix (Acquired by Leica)
- 日立
- IRIS International
- JEOL
- KLA-Tencor Corporation
- Leica Microsystems (part of Danaher Corporation)
- Medical Integrated Services (MIS)
- Nanonics Imaging, Ltd.
- ニコン
- NT-MDT
- Obducat-CamScan
- オリンパス
- Omicron Nanotechnology
- PerkinElmer
- Questar Corporation
- Schott North America
- 島津製作所
- SII NanoTechnology
- Thermo Fisher Scientific, Inc.
- Unitron
- Veeco Instruments
- WITec (Wissenschaftliche Instrumente und Technologie) GmbH
第12章 企業便覧
第13章 用語
図表
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